アンリツ(株)

  • 【展示会】
    第1回 計測・検査・センサ展
  • 【小間番号】 37-13
  • 【都道府県】 神奈川県
  • 【品質規格・許認可】
    ISO9001(品質)
  • 【取引実績】
    自動車、輸送機器
    航空宇宙
    電機、精密機器、半導体
    産業機械、工作機械
    重工業、重電、鉄道
    医療機器、ヘルスケア
    化学、食品、医薬品
    その他 製造業
  • 薄膜メタライズ・高機能性めっきの高速膜厚測定を実現します。
  • 再現性はそのままに、測定時間を短くしたい。 測定ごとのパラメータ設定は簡単に済ませたい。 基板実装部品も測定したい。 こんな悩みの解決法をご紹介します。

製品・サービス一覧

  • 蛍光X線式膜厚測定器 XDLM237

    非破壊・非接触・非密閉方式でCa(20)からU(92)まで最大24種類の元素を同時測定。高精度かつ長期安定性に優れたシステムとFISCHER独自のFP法は、再校正に必要な時間や労力を大幅に短縮。より簡単に膜厚測定や素材分析を可能にします。

  • 蛍光X線式膜厚測定器 XDV-μ

    非破壊・非接触・非密閉方式でCa(20)からU(92)まで最大24種類の元素を同時測定。高精度かつ長期安定性に優れたシステムとFISCHER独自のFP法が、高速高分解能な検出感度を実現。非常に小さい部品からPCB、ウエーハなど複雑な多層膜の連続測定も簡単実施。

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